半導體顯微鏡的各種觀察功能可生成清晰的圖像，讓用戶能夠對樣品進行可靠的缺陷檢測。全新照明技術以及奧林巴斯Stream圖像分析軟件的圖像采集選項為用戶評估樣品和存檔檢測結果提供更多選擇。

激光共聚焦顯微鏡配有奧林巴斯光學掃描儀。通過將采用電磁感應MEMS諧振掃描儀的X軸與采用Galvano掃描振鏡的Y軸相結合，$n能夠讓X-Y掃描儀定位于相對物鏡瞳鏡共軛的位置，因而能夠實現具有較低掃描軌跡失真和較小光學像差的X-Y掃描。

工具顯微鏡系列采用了歷代奧林巴斯的技術，并借鑒了長達一個多世紀顯微鏡研發和50多年測量顯微鏡研發的經驗，品質值得信賴。

倒置金相顯微鏡廣泛應用于鋼鐵、汽車、電子及其他制造行業。用戶只需將樣品倒扣放置在載物臺上即可檢測拋光金屬和切片樣品。樣品底部無需平整處理，并且尺寸可以較厚、較大、或者較重。

體視顯微鏡是不斷追求的伽利略光學系統為*的立體顯微鏡的結果。該系列產品旨在宏觀觀察在低倍鏡下提高獲得高品質的圖像，以及高倍鏡下顯微結構的觀察。增強的功率也確保了*的變焦范圍也提高了焦點的深度